液晶面板廠商堅持使用山田光學YP-250I作為高反射材料（如玻璃基板、ITO薄膜、偏光片等）的檢測光源，主要源于其在超高照度、熱管理、光學穩定性等方面的優勢。以下是關鍵原因分析：
行業最高亮度：YP-250I提供400,000 Lux（60mmφ光斑），遠超普通LED光源（通常<100,000 Lux），可清晰識別0.2 μm級的劃痕、異物、拋光不均等缺陷。
高反射材料適配：液晶面板的ITO鍍層、金屬走線等具有強反光特性，YP-250I的銳利光斑能穿透反射干擾，避免誤檢。
對比競品：SENA 185LE雖同達400,000 Lux，但YP-250I的冷鏡技術減少光散射，成像更清晰。
典型應用：
液晶Cell貼合檢測：發現微米級氣泡、貼合偏移。
偏光片劃傷檢查：識別表面細微損傷，避免后續組裝不良。
熱輻射降低70%：傳統鹵素燈易導致液晶材料受熱變形，而YP-250I采用冷反射鏡，熱影響僅為鋁鏡的1/3，適合熱敏感基板（如OLED、柔性屏）。
強制風冷可選：YP-250I提供螺旋槳風扇/管道通風兩種散熱模式，適配不同潔凈度車間。
對比劣勢：
SENA 185LE依賴強制空冷，可能擾動無塵環境；
LED光源（如HIKARIYA）雖無熱輻射，但照度不足（最高90,000 Lux），難以滿足高精度需求。
鹵素光源優勢：YP-250I采用OSRAM 250W鹵素燈，色溫穩定在3400K，顯色指數（CRI）接近自然光，避免LED的藍光偏色問題。
兩級調光設計：一鍵切換高/低照度模式，適應不同檢測階段（如初檢→復檢）。
競品對比：
巖崎/牛尾UV燈：適用于固化，但可見光均勻性較差；
普通LED面光源：存在邊緣照度衰減，影響檢測一致性。
YP-150I：專為6寸晶圓設計（φ30mm光斑）；
YP-250I：擴展至8寸晶圓（φ60mm光斑），適配大尺寸液晶面板（如65英寸以上TV屏）。
產線案例：
某頭部面板廠通過YP-250I將漏檢率降低30%，尤其在高反光AMOLED產線中表現突出。
| 替代方案 | 主要問題 | YP-250I優勢 |
|---|---|---|
| SENA 185LE | 金屬鹵素燈熱輻射高，需額外散熱系統 | 冷鏡技術減少熱影響 |
| HIKARIYA LED | 照度不足（90,000 Lux），僅適合初檢 | 400,000 Lux超高亮度 |
| USHIO UV燈 | 可見光均勻性差，不適合目視檢測 | 鹵素光源穩定，適配人眼觀測 |
| 普通鹵素燈 | 熱輻射大，易損傷液晶材料 | 冷鏡+強制散熱雙重優化 |
兼顧400,000 Lux照度與低熱輻射，適合液晶/OLED等敏感材料；
光學穩定性行業*，避免LED/UV光源的色偏問題；
模塊化設計（可選風扇類型）適配不同潔凈車間需求；
長期成本可控：雖鹵素燈壽命僅35小時，但冷鏡技術減少停機維護頻率910。
適用產線：
液晶面板：Cell貼合、偏光片檢測、CF彩膜檢查；
半導體：晶圓表面拋光、金屬線路缺陷識別；
新興領域：Micro LED巨量轉移后焊點檢測68。
若追求更高壽命，可評估SENA 185LE（3000小時），但需接受熱管理妥協；若預算有限且檢測標準寬松，HIKARIYA LED可作為補充方案。
